Micro-Epsilon – ytinspektion av reflekterande ytor

Det helt integrerade reflectCONTROL-kontrollsystemet för reflekterande ytor är tillgängligt i två versioner för ytinspektion, som erbjuder olika mätområden. 2D-versionen upptäcker defekter på ytor. 3D-version kan dessutom användas för mätning av reflekterande ytor på en submikrometernivå.

Den här enheten används också i enskilda applikationer (t.ex. laboratorier) samt direkt i produktionslinjer. Den förinstallerade programvaran för drift och utvärdering av 2D-versionen visar ytdefekter. 3D-versionen ger ett punktmoln och den erhållna datan kan behandlas i bildbehandlingsprogram.

Alla nödvändiga komponenter är integrerade i en enhet. Användning sker genom pekskärm. Benen är justerbara på höjden. För att undvika störningar från omgivande ljus, kan mätfältet mörkas från alla fyra sidor.

reflectCONTROL Compact kan integreras i produktionslinjer via Ethernet-gränssnittet. Ett digitalt I/O-gränssnitt möjliggör triggning. Mus och tangentbord kan anslutas via två USB-portar. Om enheten är installerad i en svåråtkomlig plats kan en extern skärm för drift anslutas via VGA-gränssnitt.

[av_button label='Läs mer' link='manually,http://www.micro-epsilon.se/measurement-systems/reflectCONTROL_Compact/index.html' link_target='' size='large' position='center' icon_select='yes' icon='ue835' font='entypo-fontello' color='theme-color' custom_bg='#444444' custom_font='#ffffff']